Open Access
Numéro
Collection SFN
Volume 9, 2008
\'Etude Stucturales par Diffraction des Neutrons, des Bases aux Avancées Récentes
Page(s) 65 - 85
DOI https://doi.org/10.1051/sfn:2008006
Publié en ligne 12 décembre 2008
Collection SFN 9 (2008) 65-85
DOI: 10.1051/sfn:2008006

Structures magnétiques, diffraction de neutrons et symétrie

F. Bourée1 and J. Rodríguez-Carvajal2

1  LLB [CEA-CNRS], CEA/Saclay, 91191 Gif-sur-Yvette Cedex, France
2  Institut Laue-Langevin, BP. 156, 38042 Grenoble Cedex 9, France


Publié en ligne le 12 décembre 2008

Abstract
Magnetic structure determination (description of the microscopic arrangement of magnetic moments in a crystal) requires neutron diffraction studies. Magnetic neutron powder diffraction is, and will remain in the future, the most straightforward technique to determine magnetic structures as a function of temperature, pressure ...We will show here the successive steps of a magnetic structure determination, from the experiment (2-axis diffractometer) to the results: commensurate and/or incommensurate long-range magnetic order, via data analysis. A special attention is devoted to symmetry analysis. Examples are selected in the ${\rm R}_2{\rm T}_2{\rm X}$ system (with ${\rm R} = {\rm Lanthanide\,or\,Uranium}$; ${\rm T}={\rm Transition\,Metal}$, ${\rm X}={\rm In\,or\,Sn})$.


Résumé
La diffraction de neutrons est à l'heure actuelle, et restera encore pour un bon nombre d'années, la technique la plus directe de détermination des structures magnétiques, en fonction de la température, de la pression ... Les étapes successives d'une telle détermination structurale (structures ferromagnétiques, antiferromagnétiques ...) seront présentées dans cet exposé, depuis l'expérience (diffractomètres 2-axes) jusqu'aux résultats (structures magnétiques commensurables et/ou incommensurables), avec une attention particulière réservée à la technique d'analyse de symétrie. Les exemples choisis appartiennent à la "série" $\rm R_2 T _2 X$ (R = Lanthanide ou Uranium; T = Métal de Transition; ${\rm X}={\rm In\,ou\,Sn}$).



© EDP Sciences 2008